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AP7XP 无图形晶圆缺陷检测系统
AP5XP 无图形晶圆缺陷检测系统
AP3 无图形晶圆缺陷检测系统
温度反射率测量仪VRT940B,采用光纤连接测量温度反射率的RT探头;940nm单波长,测温范围可定制;Trigger信号输入功能,可对多片系统分片测量,体积小,安装使用方便;用于SiC外延设备温度监测,测温信号可用于温度控制
测温范围可定制
具有Trigger信号输入功能,可对多片系统分片测量
体积小,安装使用方便
型号: AK-mPyro 小体积红外测温仪
型号: VT940B/VT1550B 多通道光纤测温仪
型号: T405 晶圆表面温度测量仪
型号: RTC6.5 MOCVD原位监测设备
昂坤视觉(北京)科技有限公司
91360106MA38LE7K02
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