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H2000 化合物半导体图形晶圆缺陷检测系统
报价:面议
品牌: 昂坤视觉
产地: 北京
关注度: 10
型号: H2000 化合物半导体图形晶圆缺陷检测系统
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产品介绍

H2000,用于化合物有图形工艺的晶圆缺陷检测,设备集成了线扫和面阵扫描双重光学系统,并且配置了激光暗场检测图形的光学滤波技术,可以对工艺过程的各种缺陷进行检测和分类,最小检测精度100nm(暗场滤波后)


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昂坤视觉(北京)科技有限公司为您提供昂坤视觉H2000 化合物半导体图形晶圆缺陷检测系统,H2000 化合物半导体图形晶圆缺陷检测系统产地为北京,属于检测设备,除了H2000 化合物半导体图形晶圆缺陷检测系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供AP7XP 无图形晶圆缺陷检测系统、AP5XP 无图形晶圆缺陷检测系统、AP3 无图形晶圆缺陷检测系统。
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