高级会员
已认证
首页
公司介绍
产品中心
公司动态
访客留言
联系我们
AP7XP 无图形晶圆缺陷检测系统
AP5XP 无图形晶圆缺陷检测系统
AP3 无图形晶圆缺陷检测系统
H2000,用于化合物有图形工艺的晶圆缺陷检测,设备集成了线扫和面阵扫描双重光学系统,并且配置了激光暗场检测图形的光学滤波技术,可以对工艺过程的各种缺陷进行检测和分类,最小检测精度100nm(暗场滤波后)
线扫 + 面扫双模式
图形区域最小检测精度 100nm
覆盖工艺过程全类型缺陷,助力化合物有图形晶圆的工艺优化
型号: AK-mPyro 小体积红外测温仪
型号: VT940B/VT1550B 多通道光纤测温仪
型号: T405 晶圆表面温度测量仪
型号: VRT940B 温度反射率测量仪
昂坤视觉(北京)科技有限公司
91360106MA38LE7K02
分类
留言类型
需求简述
联系人
单位名称
电子邮箱
手机号
图形验证码