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SPI-300 化合物晶圆形貌测量系统
报价:面议
品牌: 昂坤视觉
产地: 北京
关注度: 10
型号: SPI-300 化合物晶圆形貌测量系统
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产品介绍

晶圆形貌测量设备,基于光谱共聚焦技术研发,专注于晶圆 THICKNESS(厚度)、TTV(总厚度变化)、BOW(弯曲度)、WARP(翘曲度)及 LTV(局部厚度变化)等外形参数测量与分选


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昂坤视觉(北京)科技有限公司为您提供昂坤视觉SPI-300 化合物晶圆形貌测量系统,SPI-300 化合物晶圆形貌测量系统产地为北京,属于检测设备,除了SPI-300 化合物晶圆形貌测量系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供AP7XP 无图形晶圆缺陷检测系统、AP5XP 无图形晶圆缺陷检测系统、AP3 无图形晶圆缺陷检测系统。
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昂坤视觉(北京)科技有限公司

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91360106MA38LE7K02

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